Caractérisations avancées

Contacts

Jean-Paul Kleider, GeePs, jean-paul.kleider@geeps.centralesupelec.fr
Muriel.bouttemy, uvsqmuriel.bouttemy@uvsq.fr

Introduction et contexte

Alors que le photovoltaïque s'affirme comme un élément incontournable pour le mix énergétique des années futures, les recherches de nouveaux matériaux ou d'architectures de cellules plus complexes nous conduisent à des besoins toujours plus diversifiés en outils de diagnostic et de caractérisation. Ces besoins sont diversifiés à plus d'un titre.
En effet, ils couvrent à la fois des échelles très différentes, allant de la caractérisation à l'échelle très locale, à l'échelle du nanomètre, par exemple par microscopie à force atomique, jusqu'à des caractérisations très macroscopiques, au-delà de dizaines de centimètres, pour des panneaux photovoltaïques.
Par ailleurs, ils couvrent des caractérisations de nature très différente : chimique, physico-chimique, structurale, optique, optoélectronique, électrique.

La position de FedPV :

Les laboratoires de FedPV s’intéressent à l'ensemble des échelles et des types de caractérisation pour le PV. Les efforts portent en particulier sur le couplage de différentes caractérisations et sur le développement et la mise au point de systèmes operando ou in-situ.

Le tableau suivant donne un aperçu des différentes techniques, classées par nature, et indiquant les échelles spatiales auxquelles les caractérisations sont sensibles ou adaptées, et les laboratoires où ces techniques sont disponibles. Les laboratoires apparaissant en couleur orange proposent des versions de techniques in situ ou operando.

Tableau résumé des principaux outils de caractérisation, leur domaine d'application, les laboratoires hébergeurs ;
en orange apparaissent les outils in situ ou operando.
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